我团队陈亮工程师、吴利徽工程师和陈威副研究员等人近期在JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION发表论文”In situ observation of void evolution in 1,3,5-triamino-2,4,6-trinitrobenzene under compression by synchrotron radiation X-ray nano-computed tomography”。
该工作利用X射线纳米计算机断层成像原位表征了受压的1,3,5-三氨基2,4,6-三硝基苯晶体中空隙的形成和发展。受益于高空间分辨率（30 nm）和出色的成像对比度，X射线纳米计算机断层图像显示原始晶体中存在一小部分不均匀结构（体积比为1.2％）。这种不均匀性充当空隙的成核作用在压缩过程中产生应力集中，这导致空隙在负载下持续增长。同时，结果进一步表明，正在发展的孔隙不是各向同性的：具有较高表面粗糙度和不规则结构的孔隙，更容易破裂并形成新的微孔隙。与原始结构相比，这些具有较高不规则结构的新空隙较弱并且更容易分成较小的空隙，从而导致沿这些薄弱区域形成空隙，最终形成大的空隙。实验允许直接调查空隙的形成和发展，这有助于研究在制造和运输过程中空隙发展和高能材料劣化的机理。
